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In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.2 für Wafer-Lesegeräte der Serie 1720/1740

ZIP: 180.25 MB

Version: 4.5.2

Veröffentlichungsdatum: 08.12.2023

Sprache: Englisch (English)

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Zusammenfassung des Inhalts

In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.2 verbessert die Leistung und erleichtert die Setup von In-Sight 1720/1740 Wafer-Lesegeräten.

In-Sight Explorer Wafer ID Version 4.5.2 unterstützt die Waferleser der In-Sight 1720/1740-Serie. In Wafer ID Version 4.5.2 sind mehrere Verbesserungen für verbesserte Leseleistung und einfachere Setup und Bedienung der Waferleser der In-Sight 1720- und 1740-Serie enthalten:

  • Funktionale VB6.0- und .NET-Beispiel-Apps
  • Verbesserungen des Webbrowsers für eingebettet Steuerung
  • Leichte Leistungsmodifikationen
  • IE 7.0-kompatibel Tune-Taste
  • Optionen für Kompression 10 und 13 jetzt für BC 412 verfügbar
  • Kontrollkästchen Aktivierung der SEMI-Prüfsumme
  • Funktionale Abstimmung mit Filtern

HINWEIS:

Die Standardversion der In-Sight Explorer 4.5.2-Software für allgemeine In-Sight Bildverarbeitungssysteme enthält nicht die Firmware- und Benutzeroberfläche, die für Waferleser der Serie 1720 und 1740 erforderlich sind. Wenn Sie In-Sight Explorer 4.5.2 bereits auf Ihrem PC installiert haben, müssen Sie auch In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.2 installieren, um Wafer-Lesegeräte der Serie 1720 und 1740 verwenden zu können.

Win10 wurde erfolgreich vor Ort eingesetzt und sollte mit minimalen oder keinen Anpassungen funktionieren.