Zusammenfassung des Inhalts
Laden Sie die In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.2 herunter, um Verbesserungen und Fehlerbehebungen für die Benutzerfreundlichkeit zu erhalten, einschließlich der ordnungsgemäßen Funktion von Visual Basic-Beispielanwendungen, der Verhinderung von unendlichen Schleifen und unbearbeiteten Ausnahmen bei der Verwendung von WebBrowser-Steuerungen, reaktionsschnellen Anpassungen der Lichtleistung, einer stabilen Verbindung mit IE7 und neuen Barcode-Kompressionsoptionen. Das Update führt auch die SEMI-Checksum-Entfernungsfunktionen, die Anpassung der Ausrichtung auf In-Sight 1740 und die Konsistenz der Ausgabezeitberichte ein. Stellen Sie sicher, dass die Datei Index.html kopiert wird, um die volle Funktionalität zu erhalten.
Laden Sie In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.2 herunter, um verschiedene Verbesserungen und Fehlerbehebungen zu erhalten.
In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.2 ist die neueste Version nach In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.0 CR3 für die Wafer-Lesegeräte der Serien In-Sight 1720 und In-Sight 1740.
Verbesserungen und Korrekturen
- Die Visual Basic 6.0- und Visual Basic .NET-Beispielanwendungen, die in der Cognex Wafer ID-Installation enthalten sind, funktionieren jetzt ordnungsgemäß. Bisher funktionierten die Beispielanwendungen aufgrund fehlender Dateiabhängigkeiten nicht richtig.
- Beim Einbetten der Wafer ID-Benutzeroberfläche in ein Dialogfeld in einer benutzerdefinierten Anwendung mit einem WebBrowser-Steuerelement tritt die Anwendung nicht mehr in eine unendliche Schleife ein, wenn der Fokus auf die Anwendung wiederhergestellt wird.
- Beim Einbetten der Wafer-ID-Benutzeroberfläche in eine benutzerdefinierte Anwendung mithilfe eines WebBrowser-Steuerelements werden beim Speichern einer Auftragsdatei oder beim Auslösen des Wafer-Lesegeräts keine unbearbeiteten Ausnahmefehler mehr angezeigt.
- Wenn Sie den Lichtleistungswert ändern, reagiert die Benutzeroberfläche nicht mehr. Zuvor kann ein schnelles Verschieben der horizontalen Bildlaufleiste zwischen einem breiten Bereich von Belichtungswerten oder ein wiederholtes Klicken auf die numerische Aufwärts-/Abwärts-Steuerung Light Power dazu führen, dass die Schnittstelle vorübergehend nicht reagiert.
- Wenn Sie über Microsoft® Internet Explorer 7.0 bei einem Wafer-Lesegerät angemeldet sind, bleibt die Benutzeroberfläche nach dem Klicken auf die Schaltfläche „Abstimmen“ mit dem Lesegerät und Internet Explorer verbunden. Zuvor wurde durch Klicken auf die Schaltfläche „Abstimmen“ eine Internet Explorer-Fehlermeldung angezeigt und der Webbrowser reagiert nicht mehr.
- Die Dropdown-Liste Barcode-Kompression auf der Registerkarte Erweitert wurde aktualisiert, um die Optionen Kompression 10 und Kompression 13 für die Dekodierung komprimierter BC 412-Barcodes aufzunehmen. Wenn Compressed 10 der ausgewählte Komprimierungstyp ist, gibt der &ldquo10&rdquo codierte Wert &ldquoVF&rdquo zurück. Wenn Compressed 13 der ausgewählte Komprimierungstyp ist, gibt der &ldquo13&rdquo codierte Wert &ldquoZF&rdquo zurück.
- Die Registerkarte Erweitert wurde aktualisiert, um ein Kontrollkästchen SEMI-Prüfsumme entfernen aufzunehmen. Wenn diese Option aktiviert ist, werden die 2-stellige SEMI-Prüfsumme und jedes „besondere“ Zeichen unmittelbar vor der Prüfsumme („-“, „.“, „#“ oder Leerzeichen“) automatisch aus dem Leseergebnis entfernt. Der Befehl SetConfigRemoveSEMIChecksum Extended Native Mode wurde hinzugefügt, um anzugeben, ob die SEMI-Prüfsumme automatisch aus dem Leseergebnis entfernt wird, und der Befehl GetConfigRemoveSEMIChecksum Extended Native Mode wurde hinzugefügt, um die aktuelle Einstellung abzurufen. Diese Funktion wird für die Markierungstypen 'SEMI', 'M1.15' und 'Chars' unterstützt, wenn die Prüfsumme 'SEMI' oder 'SEMI mit Virtual' ist.
- Wenn eine Auftragsdatei auf einem In-Sight 1720 Wafer-Lesegerät entwickelt und dann auf einen In-Sight 1740 Wafer-Lesegerät geladen wird, wird die Ausrichtung umgekehrt. Um die Ausrichtung am In-Sight 1740 Wafer-Reader automatisch anzupassen, ohne Änderungen an der Auftragsdatei vorzunehmen, müssen Sie den folgenden Befehl Erweiterter nativer Modus an den In-Sight 1740 Wafer-Reader senden: EV SetSystemConfig("IS1720ImageCompatibility",1,1). Dieser Befehl wird nur auf dem In-Sight 1740 Wafer-Lesegerät unterstützt.
- Nach Abstimmung eines Filters für eine Konfiguration werden die Filteroperationen „Auto“ nicht mehr auf Null zurückgesetzt, wenn der Benutzer auf die Schaltflächen Bearbeiten oder Fertig auf der Registerkarte Filter klickt.
- Die Statusleiste wird nun ordnungsgemäß im Internet Explorer angezeigt, wenn die Sprache der Benutzeroberfläche auf Japanisch eingestellt ist. Bisher würde die Statusleiste nicht vollständig angezeigt werden.
- Hinweis: Diese Korrektur wurde an der Index.html-Datei vorgenommen, die im Wafer ID-Installationspaket enthalten ist. Die Index.html-Datei muss über FTP in den Flash-Speicher des Wafer-Lesegeräts kopiert werden, um auf diesen Fix zugreifen zu können.
- Wenn Sie den Befehl In-Sight Protocol READ ausführen, um den Waferleser auszulösen, gibt die Ausgabezeit jetzt die korrekte Leseausführungszeit für alle aktiviert Konfigurationen zurück. Zuvor könnte sich die Ausgabezeit von der Leseausführungszeit unterscheiden, die in der Wafer-ID-Benutzeroberfläche angezeigt wird.
Dateiname : Cognex In-Sight Wafer ID 4.5.2 .zip