Zusammenfassung des Inhalts
Version 4.5.0 CR3 aktualisiert die Firmware/Software für In-Sight 1720 und 1740 Wafer-Lesegeräte und behandelt Probleme aus Version 4.5.0. Zu den wichtigsten Änderungen gehören ein neuer Markierungstyp „Chars, Canon“ für die Canon-Schrift optische Zeichenerkennung auf der Registerkarte Allgemein, eine verbesserte Handhabung aktiviert Konfigurationen in Bezug auf Zeitüberschreitungsgrenzen und eine genaue Anzeige der Lesezeit im Leseprotokoll, wenn die erneute Abstimmung für mehrere Konfigurationen ausgeführt wird. Laden Sie das Update als In-Sight Wafer ID 4.5.0 CR3 .zip herunter.
Version 4.5.0 CR3 ist eine Patch-Version der Firmware/Software für alle Wafer-Lesegeräte der In-Sight 1720-Serie und der In-Sight 1740-Serie. Diese Version enthält Änderungen und Korrekturen an bekannten Problemen in Firmware/Software Version 4.5.0.
Änderungen und Korrekturen
- Auf der Registerkarte Allgemein wurde ein Markierungstyp 'Chars, Canon' hinzugefügt, um optische Zeichenerkennung-Zeichen der Canon-Schriftart lesen zu können.
- Wenn ein Lesevorgang ausgeführt wird, versucht der Waferleser nun ordnungsgemäß, die Markierung für alle aktiviert Konfigurationen zu lesen, bis die Zeitüberschreitungsgrenze erreicht ist. Bisher wurden alle aktiviert Konfigurationen versucht, aber der Timeout-Wert wurde ignoriert.
- Wenn Tune für mehr als eine aktiviert Konfiguration aus dem Dropdown-Menü Retry ausgewählt wird, wird ein Read ausgeführt und es erfolgt automatisch ein Retry Abstimmung, die Gesamtlesezeit des Read Log (in Sekunden) zeigt nun die korrekte Zeit an, die für die Durchführung des Reads benötigt wurde.
Dateiname : In-Sight Wafer ID 4.5.0 CR3 .zip