Resumen de contenido
In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.2 mejora el rendimiento y la facilidad de instalación de los lectores de obleas In-Sight 1720/1740.
In-Sight Explorer Wafer ID versión 4.5.2 es compatible con los lectores de obleas In-Sight serie 1720/1740. En la wafer ID Versión 4.5.2 se incluyen varias mejoras para mejorar el rendimiento de lectura y facilitar la instalación y el funcionamiento de los lectores de wafer In-Sight Serie 1720 y 1740:
- Aplicaciones de muestra funcionales VB6.0 y .NET
- Mejoras en Web Browser para un control integrado
- Mejoras en el módulo de potencia ligera
- Botón de sintonización compatible con IE 7.0
- Opciones de compresión 10 y 13 ahora disponibles para BC 412
- Habilitación de la casilla de verificación de la suma de verificación de SEMI
- Filtros de sintonización funcional
NOTA:
La versión estándar del software In-Sight Explorer 4.5.2 para In-Sight vision systems de uso general no contiene el firmware ni el archivo de interfaz de usuario requeridos por los lectores de obleas de las series 1720 y 1740. Si ya tiene instalado In-Sight Explorer 4.5.2 en su PC, también debe instalar In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.2 para usar los lectores de obleas de las series 1720 y 1740.
Win10 se ha utilizado correctamente en el campo y debe funcionar con ajustes mínimos o sin ajustes.