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Identifiant de wafer In-Sight Explorer 4.5.2 pour lecteurs de wafer série 1720/1740

ZIP: 180.25 Mo

Version : 4.5.2

Date de sortie : 08/12/2023

Langue : Anglais (English)

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Résumé du contenu

In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.2 améliore les performances et facilite la configuration des lecteurs de plaquettes In-Sight 1720/1740.

La version 4.5.2 de l'ID de wafer In-Sight Explorer prend en charge les lecteurs de wafer In-Sight série 1720/1740. Plusieurs améliorations sont incluses dans la version 4.5.2 de l’ID de plaquette pour améliorer les performances de lecture et faciliter la configuration et le fonctionnement des lecteurs de plaquettes In-Sight des séries 1720 et 1740 :

  • Exemples d’applications VB6.0 et .NET fonctionnelles
  • Améliorations du navigateur Web pour un contrôle embarqué
  • Améliorations du module de puissance légère
  • Bouton de réglage compatible IE 7.0
  • Options de compression 10 et 13 désormais disponibles pour BC 412
  • Activation de la case à cocher de la somme de contrôle SEMI
  • Le réglage fonctionnel à l’aide de filtres

NOTE :

La version standard du logiciel In-Sight Explorer 4.5.2 pour les systèmes de vision In-Sight à usage général ne contient pas les fichiers de micrologiciel et d’interface utilisateur requis par les lecteurs de plaquettes des séries 1720 et 1740. Si In-Sight Explorer 4.5.2 est déjà installé sur votre PC, vous devez également installer In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.2 afin d'utiliser les lecteurs de plaquettes des séries 1720 et 1740.

Win10 a été utilisé avec succès sur le terrain et doit fonctionner avec des ajustements minimes ou sans ajustement.