Résumé du contenu
Téléchargez In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.2 pour obtenir des améliorations et des correctifs d'utilisation, notamment le bon fonctionnement des applications d'échantillonnage Visual Basic, la prévention des boucles infinies et des exceptions non gérées lors de l'utilisation des commandes du navigateur Web, des ajustements de la puissance lumineuse réactifs, une connexion stable avec IE7 et de nouvelles options de compression de code-barres. La mise à jour présente également les fonctions de suppression de la somme de contrôle SEMI, le réglage de l'orientation de l'image sur In-Sight 1740 et la cohérence dans les rapports de temps de sortie. Assurez-vous que le fichier Index.html est copié pour une fonctionnalité complète.
Téléchargez In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.2 pour obtenir diverses améliorations et corrections de la facilité d'utilisation.
In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.2 est la dernière version après In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.0 CR3 pour les lecteurs de plaquettes des séries In-Sight 1720 et In-Sight 1740.
Améliorations et correctifs
- Les exemples d'applications Visual Basic 6.0 et Visual Basic .NET inclus avec l'installation de Cognex Wafer ID fonctionnent désormais correctement. Auparavant, les exemples d’applications ne fonctionnaient pas correctement en raison de dépendances de fichiers manquantes.
- Lors de l’intégration de l’interface utilisateur Wafer ID dans une boîte de dialogue d’une application personnalisée à l’aide d’un contrôle de navigateur Web, l’application n’entre plus dans une boucle infinie lorsque la mise au point est restaurée sur l’application.
- Lors de l’intégration de l’interface utilisateur Wafer ID dans une application personnalisée à l’aide d’un contrôle de navigateur Web, les erreurs d’exception non traitées ne sont plus affichées lors de l’enregistrement d’un fichier de travail ou du déclenchement du lecteur de wafer.
- La modification de la valeur de puissance lumineuse n’entraîne plus l’inactivité de l’interface utilisateur. Auparavant, le déplacement rapide de la barre de défilement horizontale entre une large plage de valeurs d’exposition ou le fait de cliquer à plusieurs reprises sur la commande numérique de la puissance lumineuse vers le haut/bas pourrait entraîner une absence temporaire de réponse de l’interface.
- Une fois connecté à un lecteur de plaquettes depuis Microsoft® Internet Explorer 7.0, après avoir cliqué sur le bouton Tune, l’interface utilisateur reste connectée au lecteur et à Internet Explorer. Auparavant, cliquer sur le bouton Tune entraînait l’affichage d’un message d’erreur Internet Explorer et l’absence de réponse du navigateur Web.
- Mise à jour de la liste déroulante Compression de code-barres sur l’onglet Avancé pour inclure les options Compression 10 et Compression 13 pour décoder les codes-barres BC 412 comprimés. Lorsque Compressé 10 est le type de compression sélectionné, la valeur &ldquo10&rdquo encodée renvoie &ldquoVF&rdquo. Lorsque Compressé 13 est le type de compression sélectionné, la valeur &ldquo13&rdquo encodée renvoie &ldquoZF&rdquo.
- Mise à jour de l’onglet Avancé pour inclure une case à cocher Supprimer la somme de contrôle SEMI. Lorsque cette case est cochée, la somme de contrôle SEMI à 2 caractères et tout caractère « spécial » précédant immédiatement la somme de contrôle (« - », « . », « # » ou espace) sont automatiquement supprimés du résultat de lecture. Ajout de la commande SetConfigRemoveSEMIChecksum Extended Native Mode pour spécifier si la somme de contrôle SEMI est automatiquement supprimée du résultat de lecture et ajout de la commande GetConfigRemoveSEMIChecksum Extended Native Mode pour récupérer le paramètre actuel. Cette fonction est prise en charge pour les types de marque « SEMI, M1.15 » et « Chars » lorsque la somme de contrôle est « SEMI » ou « SEMI avec virtuel ».
- Si un fichier de tâche est développé sur un lecteur de plaquettes In-Sight 1720 puis chargé sur un lecteur de plaquettes In-Sight 1740, l'orientation de l'image sera inversée. Pour ajuster automatiquement l'orientation de l'image sur le lecteur de plaquettes In-Sight 1740 sans apporter de modifications au fichier de travail, vous devez envoyer la commande suivante en mode natif étendu au lecteur de plaquettes In-Sight 1740 : EV SetSystemConfig("IS1720ImageCompatibility",1,1). Cette commande est uniquement prise en charge sur le lecteur de plaquettes In-Sight 1740.
- Après le réglage d'un filtre pour une configuration, les opérations de filtre « Auto » ne seront plus remises à zéro si l'utilisateur clique sur les boutons Modifier ou Terminé de l'onglet Filtre.
- La barre d'état s'affiche désormais correctement dans Internet Explorer lorsque la langue de l'interface utilisateur est définie sur le japonais. Auparavant, la barre d'état ne s'affichait pas dans son intégralité.
- Remarque : Cette correction a été apportée au fichier Index.html inclus dans le package d'installation de Wafer ID. Le fichier Index.html doit être copié dans la mémoire flash du lecteur de plaquettes via FTP pour accéder à ce correctif.
- Lors de l’exécution de la commande READ du protocole In-Sight pour déclencher le lecteur de plaquettes, le temps de sortie renvoie désormais le temps d’exécution de lecture correct pour toutes les configurations activé. Auparavant, le temps de sortie pouvait être différent du temps d’exécution de lecture affiché dans l’interface utilisateur Wafer ID.
Nom du fichier : Cognex In-Sight Wafer ID 4.5.2 .zip