Riepilogo contenuto
Scarica In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.2 per miglioramenti e correzioni dell'usabilità, tra cui il corretto funzionamento delle applicazioni di campionamento Visual Basic, la prevenzione di loop infiniti e eccezioni non gestite quando si utilizzano i controlli WebBrowser, regolazioni della potenza luminosa reattive, connessione stabile con IE7 e nuove opzioni di compressione dei codici a barre. L'aggiornamento introduce anche le funzionalità di rimozione di Checksum SEMI, la regolazione dell'orientamento dell'immagine su In-Sight 1740 e l'uniformità nei rapporti sui tempi di uscita. Assicurarsi che il file Index.html sia copiato per la piena funzionalità.
Scarica In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.2 per vari miglioramenti e correzioni dell'usabilità.
In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.2 è l'ultima versione dopo In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.0 CR3 per i lettori di wafer In-Sight 1720 e In-Sight 1740.
Miglioramenti e correzioni
- Le applicazioni di esempio Visual Basic 6.0 e Visual Basic .NET incluse nell'installazione dell'ID wafer Cognex ora funzionano correttamente. In precedenza, le applicazioni di esempio non funzionavano correttamente a causa delle dipendenze dei file mancanti.
- Quando si incorpora l'interfaccia utente Wafer ID in una finestra di dialogo in un'applicazione personalizzata applicazione utilizzando un controllo WebBrowser, l'applicazione non entra più in un ciclo infinito quando viene ripristinata la messa a fuoco dell'applicazione.
- Quando si incorpora l'interfaccia utente di Wafer ID in un'applicazione personalizzata applicazione utilizzando un controllo WebBrowser, gli errori di eccezione non gestiti non vengono più visualizzati durante il salvataggio di un file di processo o l'attivazione del lettore di wafer.
- La modifica del valore della potenza luminosa non fa più sì che l'interfaccia utente non risponda. In precedenza, spostare rapidamente la barra di scorrimento orizzontale tra un'ampia gamma di valori di esposizione o fare ripetutamente clic sul controllo numerico su/giù di Light Power potrebbe causare temporaneamente la mancata risposta dell'interfaccia.
- Quando si accede a un lettore di wafer da Microsoft® Internet Explorer 7.0, dopo aver fatto clic sul pulsante Tune, l'interfaccia utente rimane connessa al lettore e a Internet Explorer. In precedenza, facendo clic sul pulsante Tune si visualizzava un messaggio di errore di Internet Explorer e il browser Web non rispondeva.
- Aggiornamento dell'elenco a discesa Compressione codice a barre nella scheda Avanzate per includere le opzioni Compressione 10 e Compressione 13 per la decodifica dei codici a barre BC 412 compressi. Quando Compressed 10 è il tipo di compressione selezionato, il valore &ldquo10&rdquo codificato restituisce &ldquoVF&rdquo. Quando Compressed 13 è il tipo di compressione selezionato, il valore &ldquo13&rdquo codificato restituisce &ldquoZF&rdquo.
- Aggiornata la scheda Avanzate per includere una casella di controllo Rimuovi checksum SEMI. Se selezionato, il checksum SEMI di 2 caratteri e qualsiasi carattere "speciale" immediatamente precedente al checksum ("-", ".", "#" o spazio) viene automaticamente rimosso dal risultato letto. Aggiunto il comando SetConfigRemoveSEMIChecksum Extended Native Mode per specificare se il checksum SEMI viene automaticamente rimosso dal risultato di lettura e aggiunto il comando GetConfigRemoveSEMIChecksum Extended Native Mode per recuperare l'impostazione corrente. Questa funzione è supportata per i tipi di mark 'SEMI, M1.15' e 'Chars' quando il checksum è 'SEMI' o 'SEMI con Virtual'.
- Se un file di lavoro viene sviluppato su un lettore di wafer In-Sight 1720 e quindi caricato su un lettore di wafer In-Sight 1740, l'orientamento dell'immagine verrà invertito. Per modificare in modo automatico l'orientamento dell'immagine sul orientamento lettore di wafer In-Sight 1740 senza apportare modifiche al file di lavoro, è necessario inviare il seguente comando Modalità nativa estesa al lettore di wafer In-Sight 1740: EV SetSystemConfig("IS1720ImageCompatibility",1,1). Questo comando è supportato solo sul lettore di wafer In-Sight 1740.
- Dopo la sintonizzazione di un filtro per una configurazione, le operazioni di filtro "Auto" non verranno più azzerate se lUtilizzatore fa clic sui pulsanti Modifica o Fatto nella scheda Filtro.
- La barra di stato viene ora visualizzata correttamente in Internet Explorer quando la lingua dell'interfaccia utente è impostata su Giapponese. In precedenza, la barra di stato non veniva visualizzata nella sua interezza.
- Nota: Questa correzione è stata apportata al file Index.html incluso nel pacchetto di installazione di Wafer ID. Il file Index.html deve essere copiato nella memoria flash del lettore wafer tramite FTP per accedere a questa correzione.
- Quando si esegue il comando LETTURA protocollo In-Sight per attivare il lettore wafer, il tempo di uscita restituisce ora il tempo di lettura corretto per tutte le configurazioni abilitato. In precedenza, il tempo di uscita poteva essere diverso dal tempo di lettura visualizzato nell'interfaccia utente dell'ID wafer.
Nome file: Wafer Cognex In-Sight ID 4.5.2 .zip