In-Sight Explorer 晶圆 ID 4.5.2 【下载】

下载 In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.2，了解各种可用性增强和修复。

In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.2 是 In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.0 CR3 之后的最新版本，适用于 In-Sight 1720 和 In-Sight 1740 系列晶圆读取器。

增强和修复

• 康耐视 Wafer ID 安装中包含的 Visual Basic 6.0 和 Visual Basic .NET 示例应用程序现在可以正常运行。以前，由于缺少文件依赖项，示例应用程序无法正常运行。
• 当使用 WebBrowser 控件将 Wafer ID 用户界面嵌入到自定义应用的对话框中时，应用焦点恢复到应用程序时，应用不再进入无限循环。
• 使用 WebBrowser 控件将 Wafer ID 用户界面嵌入自定义应用时，保存作业文件或触发晶圆阅读器时将不再显示未处理的异常错误。
• 修改光功率值不再会导致用户界面无响应。以前，在各种曝光值之间快速移动水平滚动条或反复单击光功率数值上/下控件可能会导致接口暂时无响应。
• 从 Microsoft® Internet Explorer 7.0 登录到晶圆阅读器时，单击“调整”按钮后，用户界面将保持与阅读器和 Internet Explorer 的连接。以前，单击“调整”按钮会导致显示 Internet Explorer 错误消息，Web 浏览器无响应。
• 更新了“高级”选项卡上的“条形码压缩”下拉列表，以包括用于解码压缩 BC 412 条形码的“压缩 10”和“压缩 13”选项。当压缩 10 是选定的压缩类型时，&ldquo10&rdquo 编码值返回 &ldquoVF&rdquo。当压缩 13 是选定的压缩类型时，&ldquo13&rdquo 编码值返回 &ldquoZF&rdquo。
• 更新了“高级”选项卡，以包含“删除 SEMI 校验和”复选框。选中后，2 个字符的 SEMI 校验和和以及校验和前面的任何“特殊”字符（“-”、“.”、“#”或空格）将自动从读取结果中删除。添加了 SetConfigRemoveSEMIChecksum 扩展本机模式命令，以指定 SEMI 校验和是否自动从读取结果中删除，并添加了 GetConfigRemoveSEMIChecksum 扩展本机模式命令以检索当前设置。当校验和为“SEMI”或“SEMI with Virtual”时，“SEMI、M1.15”和“Chars”标记类型支持此功能。
• 如果在 In-Sight 1720 晶圆阅读器上开发作业文件，然后加载到 In-Sight 1740 晶圆阅读器上，则图像方位将被反转。要自动调整 In-Sight 1740 晶圆阅读器上的图像方位而不更改作业文件，您必须将以下扩展本机模式命令发送到 In-Sight 1740 晶圆阅读器：EV SetSystemConfig（"IS1720ImageCompatibility"，1，1）。此命令仅在 In-Sight 1740 晶圆读取器上受支持。
• 调谐配置过滤器后，如果用户单击过滤器选项卡上的编辑或完成按钮，则“自动”过滤器操作将不再重置为零。
• 当用户界面语言设置为日语时，状态栏现在在 Internet Explorer 中正确显示。以前，状态栏不会完整显示。
• 注意: 此修复是针对 Wafer ID 安装包中包含的 Index.html 文件进行的。Index.html 文件必须通过 FTP 复制到晶圆阅读器的闪存中才能访问此修复程序。
• 执行 In-Sight Protocol READ 命令以触发晶圆阅读器时，输出时间现在返回所有已启用的配置的正确读取执行时间。以前，输出时间可能与 Wafer ID 用户界面中显示的读取执行时间不同。

文件名 ：康耐视 In-Sight 晶圆 ID 4.5.2 .zip