内容摘要
使用 In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.0 CR3 SDK 许可证嵌入 InIn-Sight Explorer 1720 和 1740 的 康耐视 Wafer ID 接口，增强您的自定义应用。此许可证允许应用程序在调试模式运行，从而克服晶圆 ID 显示控件的限制。要安装，双击 康耐视 In-Sight Wafer ID SDK License 4.5.0 CR3 .zip，按照进度条操作，完成后单击 Close。此许可证仅适用于 In-Sight 1720、1740 和 Wafer ID 显示控件。
下载 In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.0 CR3 SDK 许可证，以便将 In-Sight 1720 和 In-Sight 1740 的 康耐视 Wafer ID 用户界面嵌入到自定义应用。
In-Sight 1720 和 In-Sight 1740 附带的 Wafer ID 显示控件不允许开发人员 应用 在开发环境中以调试模式运行应用程序。In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.0 CR3 SDK 许可证解决了这个问题。
安装
- 双击 康耐视 In-Sight Wafer ID SDK 许可证 4.5.0 CR3 .zip
- 安装将开始，并显示进度条。
- 安装完成后，单击关闭按钮以完成安装。
注释
In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.0 CR3 SDK 许可证文件仅适用于 In-Sight 1720 和 In-Sight 1740 以及 Wafer ID 显示控件。
文件名 ： 康耐视 In-Sight Wafer ID SDK 许可证 4.5.0 CR3.