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In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.2 SDK 许可证 【下载】

ZIP: 0.94 MB

版本: 4.5.2

发布日期: 2014/09/17

语言: 英语

下载

内容摘要

使用 In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.2 SDK 许可证,将 InIn-Sight Explorer 1720/1740 中的 康耐视 Wafer ID UI 嵌入自定义应用程序中。此许可证可在开发环境中调试,解决所包含的晶圆 ID 显示控制中的限制。要进行安装,请运行 康耐视 In-Sight Wafer ID SDK License 4.5.0 CR3 .zip 文件并遵循进度。注意: SDK 许可证仅适用于 In-Sight 1720/1740 和 Wafer ID 显示控件。

下载 In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.2 SDK 许可证,以便将 In-Sight 1720 和 In-Sight 1740 的 康耐视 Wafer ID 用户界面嵌入到自定义应用。

In-Sight 1720 和 In-Sight 1740 附带的 Wafer ID 显示控件不允许开发人员 应用 在其开发环境中以调试模式运行应用程序。In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.2 SDK 许可证解决了这个问题。

安装

  1. 双击 康耐视 In-Sight Wafer ID SDK 许可证 4.5.0 CR3 .zip
  2. 安装将开始,并显示进度条。
  3. 安装完成后,单击关闭按钮以完成安装。

注释

In-Sight Explorer Wafer ID 4.5.2 SDK 许可证文件仅适用于 In-Sight 1720 和 In-Sight 1740 以及 Wafer ID 显示控件。

文件名 : 康耐视 In-Sight Wafer ID SDK 许可证 4.5.2 .zip