領域面積測定

スーパーバイズドモードの解析 (赤) ツール (解析 (赤) フォーカススーパーバイズド、解析 (赤) High Detail) によって返される結果についての理解を深めるには、ツールが使用する再現率、適合率、およびしきい値の解釈方法を理解する必要があります。これらは絡み合っており、しきい値は再現率と適合率の両方に影響します。

• 再現率は、処理の対象となっている、ラベルの付けられたすべての画像の中で、マークされている (検出された) 欠陥部分を占める、ラベルの付いた総欠陥領域のパーセンテージを示します。

• 適合率は、処理の対象となっている、ラベルの付けられたすべての画像の中で、ラベルの付いた欠陥領域を占める、マークされている総欠陥領域のパーセンテージを示します。

  ラベル付き欠陥領域	マークされた欠陥領域
  ラベル	マーキング

• このシナリオにおける再現率は 60% であり (ラベル付き欠陥の 40% がマークされた欠陥に含まれていない)、マークされた欠陥のほぼすべてがラベル付き欠陥に含まれているため、適合率は 99% です。

 

2 つのしきい値パラメータ (データベースの概要でグラフィカルに調整可能) である T1 と T2 があります。

• しきい値 (下限) (T1) は、欠陥ピクセルが欠陥領域に含まれる得点の下限を示します。しきい値設定が低いほど、欠陥領域は大きくなります。

• しきい値 (上限) (T2) は、画像が「不良」としてマークされる得点を決定します。このしきい値を調整すると、ROC とコンフュージョンマトリックスに影響が及びますが、適合率と再現率には影響はありません。

  しきい値 T1 = 0.10	しきい値 T1 = 0.50

上に示すように、T1 しきい値を調整すると、再現率と適合率にただちに影響が及びます。T1 しきい値が増加するにつれて、マークされた欠陥が小さくなります。これによって、対応する欠陥を持つラベル付き欠陥の量が少なくなり、再現率得点が低くなります。同時に、適合率は向上します。マークされたより小さな欠陥領域は、ラベル付き欠陥領域によって完全に覆われる確率が高くなるためです。